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圖所示是測量帶電粒子質量的儀器工作原理示意圖，設法使某有機化合物的氣態分子導入圖中所示的容器A中，使它受到電子束轟擊，失去一個電子變成為正一價的分子離子，分子離子從狹縫S₁以很小的速度進入電壓為U的加速電場區（初速不計），加速后，再通過狹縫S₂、S₃射入磁感應強度為B的勻強磁場，方向垂直于磁場區的界面PQ．最后，分子離子打到感光片上，形成垂直于紙面且平行于狹縫S₂的細線，若測得細線到狹縫S₃的距離為d．

　　（1）導出分子、離子的質量m的表達式．

　　（2）根據分子離子的質量數M可以推測有機化合物的結構簡式，若某種含C、H和鹵素的化合物的M為48，寫出其結構簡式．

　　（3）現有某種含C、H和鹵素的化合物，測得兩個M值，分別為64和66，試說明原因，并寫出它們的結構簡式．在推測有機化合物的結構時，可能用到的含量較多的同位素的質量數如下表：

　　（1）導出分子、離子的質量m的表達式．

　　（2）根據分子離子的質量數M可以推測有機化合物的結構簡式，若某種含C、H和鹵素的化合物的M為48，寫出其結構簡式．

　　（3）現有某種含C、H和鹵素的化合物，測得兩個M值，分別為64和66，試說明原因，并寫出它們的結構簡式．在推測有機化合物的結構時，可能用到的含量較多的同位素的質量數如下表：